概要
ID	Datasheet::00204 (Last update:2019-08-02 22:31:07)
タイトル	S45C鋼　平板曲げ疲労試験
言語	ja	作成者	長島伸夫(NIMS)
材料	S45C	破壊機構	疲労破壊／延性破壊／脆性破壊
実機／実験	実験	環境	室温、大気中、繰り返し曲げ応力(235MPa)、応力比はR=-1で平板曲げの疲労試験を行なった。破壊した時の繰り返し数はNf=5.77x105であった。
破面生成の概要
疲労起点部、疲労進展部、最終破断部はディンプル模様の延性破壊、一部、最終破断しなかった試験片を液体窒素冷却して破断（脆性破壊）
観察者のコメント
材料のS45C鋼は圧延ままの受け入れ材であり、表面の研磨も行なっていない。
外観写真
外観写真 番号1 破断面の外観	外観写真 番号2 破断面の外観	外観写真 番号3 破断面の外観	外観写真 番号4 破面
外観写真 番号5 破面	外観写真 番号6 破面	外観写真 番号7 破面
破断面SEM写真
破断面SEM写真 番号1 X=34.25, Y=25.81 起点 倍率 20 画素数 [1280,960]	破断面SEM写真 番号2 X=34.37, Y=24.00 倍率 1000 画素数 [1280,960]	破断面SEM写真 番号3 X=34.36, Y=24.03 倍率 500 画素数 [1280,960]	破断面SEM写真 番号4 同上 倍率 200 画素数 [1280,960]
破断面SEM写真 番号5 X=34.36, Y=24.40 倍率 100 画素数 [1280,960]	破断面SEM写真 番号6 X=34.36, Y=24.84 倍率 50 画素数 [1280,960]	破断面SEM写真 番号7 X=34．38, Y=27．18　ストライエーション 倍率 3000 画素数 [1280,960]	破断面SEM写真 番号8 同上 倍率 2000 画素数 [1280,960]
破断面SEM写真 番号9 同上 倍率 1000 画素数 [1280,960]	破断面SEM写真 番号10 X=38．16, Y=26．33　ディンプル＋リバーパターン 倍率 3000 画素数 [1280,960]	破断面SEM写真 番号11 同上 倍率 2000 画素数 [1280,960]	破断面SEM写真 番号12 同上 倍率 1000 画素数 [1280,960]
破断面SEM写真 番号13 同上 倍率 500 画素数 [1280,960]	破断面SEM写真 番号14 同上 倍率 200 画素数 [1280,960]	破断面SEM写真 番号15 同上 倍率 100 画素数 [1280,960]	破断面SEM写真 番号16 X=38．95, Y=27．42　ストライエーション 倍率 3000 画素数 [1280,960]
破断面SEM写真 番号17 同上 倍率 2000 画素数 [1280,960]	破断面SEM写真 番号18 同上 倍率 1000 画素数 [1280,960]	破断面SEM写真 番号19 同上 倍率 500 画素数 [1280,960]	破断面SEM写真 番号20 同上 倍率 200 画素数 [1280,960]
破断面SEM写真 番号21 同上 倍率 100 画素数 [1280,960]	破断面SEM写真 番号22 同上 倍率 50 画素数 [1280,960]	破断面SEM写真 番号23 Ｘ=3　側面 倍率 20 画素数 [1280,960]	破断面SEM写真 番号24 側面から見た起点部 倍率 50 画素数 [1280,960]
破断面SEM写真 番号25 同上 倍率 100 画素数 [1280,960]	破断面SEM写真 番号26 同上 倍率 200 画素数 [1280,960]	破断面SEM写真 番号27 同上 倍率 500 画素数 [1280,960]
関連資料
関連資料 番号1 試験片形状	関連資料 番号2 SN線図(1)	関連資料 番号3 SN線図(2)